发明名称 Lazer shooting system for extracting target impact point and method for extracting target impact point using the same
摘要 <p>본 발명은 탄착점 추출을 위한 레이저 사격 시스템, 그리고 레이저 사격 시스템에서의 탄착점 추출 방법에 관한 것이다. 본 발명의 제 1 측면은, 카메라(10) 및 레이저 사격 시스템(20)을 포함하는 탄착점 추출을 위한 레이저 사격 시스템에 있어서, 레이저 사격 시스템(20)은, 카메라(10)로부터 레이저 스팟을 포함하는 원본 영상을 수신하여 원본 영상을 획득하는 원본 영상 획득 수단(21a); 및 획득한 원본 영상에 대한 바이너리 비트 플레인 영상으로 재구성을 수행하는 비트 플레인 구성 수단(21b); 을 포함하며, 비트 플레인 구성 수단(21b)은 재구성된 비트 플레인(Bit Plane)을 이용하여 레이저 스팟을 추출하는 탄착점 추출을 위한 레이저 사격 시스템을 제공함에 있다. 또한 본 발명의 제 2 측면은, 레이저 사격 시스템(20)이 카메라(10)로부터 레이저 스팟을 포함하는 원본 영상을 획득하는 제 1 단계; 레이저 사격 시스템(20)이 원본 영상을 다수의 바이너리 비트 플레인 영상으로 재구성하는 제 2 단계; 및 레이저 사격 시스템(20)이 재구성된 비트 플레인 중 레이저 스팟에 해당하는 탄착점이 가장 명확하게 구현된 비트(Bit)에 해당하는 비트 플레인 영상을 최적의 비트 플레인으로 선택하는 제 3 단계; 을 포함하는 레이저 사격 시스템에서의 탄착점 추출 방법을 제공함에 있다. 이에 의해, 카메라의 특성으로 인해 레이저 포인터로 지적한 원본 영상에서 레이저 스팟의 번짐이 없는 더욱 정확한 레이저 스팟에 의한 탄착점 추출이 가능한 효과를 제공한다. 또한, 본 발명은, 종래의 레이저의 특성상 비전 기술을 이용할 경우 그 세기에 따라 번짐으로 인하여 정확한 위치 판별이 쉽지 않은 문제점을 해결할 뿐만 아니라, 단순한 영상의 처리 기법 또는 필터를 이용하는 방식이 아닌 다수의 비트 플레인 중 최적의 비트 플레인 추출 방식에 의해 정밀한 탄착점 분석이 가능한 효과를 제공한다.</p>
申请公布号 KR101568398(B1) 申请公布日期 2015.11.12
申请号 KR20140015461 申请日期 2014.02.11
申请人 发明人
分类号 F41A33/02;F41G3/32 主分类号 F41A33/02
代理机构 代理人
主权项
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