| 发明名称 | 一种用于三维测量的光栅条纹相位求解方法 | ||
| 摘要 | 本发明提出一种用于三维测量的光栅条纹相位求解方法，使用计算机生成四幅光栅条纹；使用投影仪将生成的四幅光栅条纹透射到待测物表面，使用摄像机同步拍摄经待测物调制的四幅条纹图像；根据四幅条纹图像求解四幅光栅条纹中包含的两个不同的相位，然后相位去包裹获得用于三维重建的绝对相位。本发明只需使用四幅结构光条纹就能进行相位求解与去包裹。 | ||
| 申请公布号 | CN105043301A | 申请公布日期 | 2015.11.11 |
| 申请号 | CN201510443407.6 | 申请日期 | 2015.07.24 |
| 申请人 | 南京理工大学 | 发明人 | 陈钱;冯世杰;顾国华;左超;张玉珍;陶天阳;张良;孙佳嵩;胡岩;张佳琳 |
| 分类号 | G01B11/25(2006.01)I | 主分类号 | G01B11/25(2006.01)I |
| 代理机构 | 南京理工大学专利中心 32203 | 代理人 | 唐代盛;孟睿 |
| 主权项 | 一种用于三维测量的光栅条纹相位求解方法，其特征在于，使用计算机生成四幅光栅条纹；使用投影仪将生成的四幅光栅条纹透射到待测物表面，使用摄像机同步拍摄经待测物调制的四幅条纹图像；根据四幅条纹图像求解四幅光栅条纹中包含的两个不同的相位，然后相位去包裹获得用于三维重建的绝对相位。 | ||
| 地址 | 210094 江苏省南京市玄武区孝陵卫200号 | ||