发明名称 半导体元件及其制造方法
摘要
申请公布号 TWI508147 申请公布日期 2015.11.11
申请号 TW101122589 申请日期 2012.06.25
申请人 台湾积体电路制造股份有限公司 发明人 刘铭棋
分类号 H01L21/28;H01L29/78 主分类号 H01L21/28
代理机构 代理人 洪澄文 台北市南港区三重路19之6号2楼;颜锦顺 台北市南港区三重路19之6号2楼
主权项 一种半导体元件之制造方法,包括:蚀刻一(110)矽基底,以于该(110)矽基底中形成第一沟槽,其中该(110)矽基底之该些沟槽间的剩余部分形成矽条(silicon strips),且其中该些矽条之侧壁具有(111)表面定向(surface orientations);于该些第一沟槽中填入一介电材料,以形成浅沟槽隔离(shallow trench isolation,STI)区;移除该些矽条,以于该些浅沟槽隔离区间形成第二沟槽;进行一磊晶制程,于该些第二沟槽中成长半导体条;及消减(recessing)该些浅沟槽隔离区之顶部部分,其中该些浅沟槽隔离区之被移除顶部部份间之半导体条的顶部部分系形成半导体鳍(fin)。
地址 新竹市新竹科学工业园区力行六路8号