发明名称 射频测试校准的方法、系统及检测控制模块和PC
摘要 本发明适用于测试技术领域,提供了一种射频测试校准的方法、系统及检测控制模块和PC,所述方法包括:测试人员将待校准设备放入屏蔽箱的夹具上后,由PC和检测控制模块合作完成屏蔽箱的关闭、校准软件的启动、屏蔽箱的打开等操作,在测试校准完成后,测试人员只需将待校准设备从屏蔽箱中取出。本发明,相比现有的射频测试校准方法,只需要测试人员将待校准设备放入屏蔽箱的夹具上,在测试校准完成后,将待校准设备从屏蔽箱中取出,关闭屏蔽箱、启动校准软件、打开屏蔽箱等操作均可通过PC和检测控制模块完成,减少了人工操作量,实现了一个工人可以同时操作多个测试校准系统,可以显著提高射频校准效率。
申请公布号 CN105045252A 申请公布日期 2015.11.11
申请号 CN201510278779.8 申请日期 2015.05.27
申请人 普联技术有限公司 发明人 谭晖
分类号 G05B23/02(2006.01)I 主分类号 G05B23/02(2006.01)I
代理机构 深圳中一专利商标事务所 44237 代理人 张全文
主权项 一种射频测试校准的方法,其特征在于,所述方法包括:测试人员将待校准设备放入屏蔽箱中;检测控制模块检测所述屏蔽箱和所述待校准设备的状态;当检测到所述待校准设备安装到位时,所述检测控制模块发送所述待校准设备安装到位的消息至PC;所述PC发送关闭屏蔽箱的指令至所述检测控制模块;所述检测控制模块根据所述关闭屏蔽箱的指令关闭所述屏蔽箱;当检测到所述屏蔽箱关闭后,所述检测控制模块发送所述屏蔽箱关闭的消息至所述PC;所述PC启动校准软件;当所述校准软件停止运行时,所述PC发送打开屏蔽箱的指令至所述检测控制模块;所述检测控制模块根据所述打开屏蔽箱的指令打开所述屏蔽箱;测试人员从所述屏蔽箱中取出所述待校准设备。
地址 518000 广东省深圳市南山区深南路科技园工业厂房24栋南段1层、3-5层、28栋北段1-4层