使用PYTHON的MATPLOTLIB分析芯片验证进度的方法

摘要

本发明公开了一种使用PYTHON的MATPLOTLIB分析芯片验证进度的方法，该分析芯片验证进度的方法步骤如下：步骤1）从仿真器输出中提取覆盖率，步骤2）将每次提取到的覆盖率形成历史数据，步骤3）基于覆盖率历史数据进行数值分析与预测。本发明的使用PYTHON的MATPLOTLIB分析芯片验证进度的方法和现有技术相比，充分发挥了Python语言极高的编程灵活性与可复用性，充分使用了matplotlib库中的图形化数值统计与分析的功能，并在芯片开发领域进行使用，有效提高了芯片开发的效率，增加了芯片开发过程的可控性。

主权项

使用PYTHON的MATPLOTLIB分析芯片验证进度的方法，其特征在于,该分析芯片验证进度的方法步骤如下：步骤1）从仿真器输出中提取覆盖率，步骤2）将每次提取到的覆盖率形成历史数据，步骤3）基于覆盖率历史数据进行数值分析与预测。