发明名称 测试系统、识别待测装置中缺陷之方法、电脑可读储存媒体、高速输出入装置及其测试方法
摘要
申请公布号 TWI507702 申请公布日期 2015.11.11
申请号 TW100136606 申请日期 2011.10.07
申请人 矽像公司 发明人 宋 晶颂;金民奎;阮山
分类号 G01R31/28 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人 江国庆 台北市松山区光复北路11巷46号11楼
主权项 一种高速输出入装置,包含:一复数传送器及一复数接收器,包含一第一传送器和一第一接收器;一复数回归连结,其从该传送器之一输出至该接收器之一输入,每一该复数回归连结包含一第一连接器以及一第二连接器以用于传输差分信号,该复数回归连结包含从该第一传送器至该第一接收器之一第一回归连结;一第一电感和一第二电感用于每一该复数回归连结,该第一电感具有一第一终端及一第二终端,以及一第二电感,具有一第一终端及一第二终端,该第一电感之该第一终端系连接至该复数回归连结之该第一连接器,该第二电感之该第一终端系连接至该复数回归连结之该第二连接器,该第一电感之该第二终端及该第二电感之该第二终端系提供用于该复数回归连结之一测试存取埠,以用于该高速输出入装置之直流电流测试,该第一回归连结包含一第一测试存取埠;以及一接收器内建自我测试和一传送器内建自我测试,其中该接收器内建自我测试及该传送器内建自我测试系提供该高速输出入装置之高速回归测试及直流电流测试,其中该直流电流测试包含该高速输出入装置之参数测试及该高速输出入装置之接合导线缺陷测试;其中该高速输出入装置之该接合导线测试包含下 列一者或以上者:用于开路接合导线缺陷之测试;用于固定型接合导线缺陷之测试;以及用于桥接接合导线缺陷之测试;其中该第一回归连结对固定型之该接合导线缺陷或该桥接接合导线缺陷之测试步骤,包含:关闭经连接之该复数传送器及该复数接收器;以及测量一个或以上个测试存取埠之电流或电压,除了该第一测试存取埠。
地址 美国