发明名称 |
一种用于检测自身回光对激光器影响的方法及检测设备 |
摘要 |
本发明公开了一种用于检测自身回光对激光器影响的方法及检测设备,方法包括:接收激光器输入的输入光;将输入光分割成第一检测光和第二检测光,并分别向第一光功率计和可调反射镜输出第一检测光和第二检测光;接收可调反射镜所反射的部分第二检测光,并将可调反射镜所反射的部分第二检测光分割成第一回光和第二回光,并分别向激光器和第一光功率计回传第一回光和第二回光;通过第一光功率计检测第一检测光的功率,通过第二光功率计检测第二回光的功率;计算激光器的输入光的功率和第一回光的功率,并建立第一回光的功率与激光器的输入光的功率之间的功率对应关系。通过上述方式,本发明可检测回光的功率与激光器的输入光的功率之间的对应关系。 |
申请公布号 |
CN105043726A |
申请公布日期 |
2015.11.11 |
申请号 |
CN201510585296.2 |
申请日期 |
2015.09.15 |
申请人 |
深圳市创鑫激光股份有限公司 |
发明人 |
周少丰;黄良杰;李凯;蒋峰 |
分类号 |
G01M11/02(2006.01)I |
主分类号 |
G01M11/02(2006.01)I |
代理机构 |
深圳华奇信诺专利代理事务所(普通合伙) 44328 |
代理人 |
宋建平 |
主权项 |
一种用于检测自身回光对激光器影响的方法,其特征在于,包括:接收激光器输入的输入光;将所述输入光分割成第一检测光和第二检测光,并分别向第一光功率计和可调反射镜输出所述第一检测光和第二检测光,其中,所述第一检测光的功率与输入光的功率满足第一预定关系;接收所述可调反射镜所反射的部分第二检测光,并将所述可调反射镜所反射的部分第二检测光分割成第一回光和第二回光,并分别向所述激光器和第一光功率计回传所述第一回光和第二回光,其中,所述第二回光的功率与第一回光的功率满足第二预定关系;通过所述第一光功率计检测第一检测光的功率,通过所述第二光功率计检测第二回光的功率;根据所述第一检测光的功率计算激光器的输入光的功率,根据所述第二回光的功率计算第一回光的功率,建立并输出所述第一回光的功率与激光器的输入光的功率之间的功率对应关系;转动N‑1次所述可调反射镜,使所述可调反射镜位于N个不同的反射角反射部分第一检测光,以输出N对所述功率对应关系,其中,N为大于或等于2的自然数。 |
地址 |
518000 广东省深圳市宝安区沙井街道和一社区第三工业区明鑫工业园第一栋第三层B |