发明名称 |
基于微结构的移频超分辨显微成像方法和装置 |
摘要 |
本发明公开了一种基于微结构的移频超分辨显微成像方法,将入射照明光垂直照射在微结构上产生表面波,使用表面波对样品表面进行照明,并通过显微镜从远场接收强度图像;对所述的强度图像进行傅里叶变换得到相应频谱,使用移频算法对所得到的频谱进行还原,并得到相应的频谱还原图像;改变表面波导入样品的方向,直至覆盖0~360°,每次均上述步骤,得到不同方向下的频谱还原图像;对不同方向下的频谱还原图像进行叠加,得到完整的高频频谱图像;对所述的完整高频频谱图像进行傅里叶反变换,得到观察样品的超分辨显微图像。本发明还公开了一种基于微结构的移频超分辨显微成像装置。 |
申请公布号 |
CN103353675B |
申请公布日期 |
2015.11.11 |
申请号 |
CN201310278646.1 |
申请日期 |
2013.07.02 |
申请人 |
浙江大学 |
发明人 |
刘旭;郝翔;匡方;李海峰 |
分类号 |
G02B27/58(2006.01)I;G02B21/06(2006.01)I |
主分类号 |
G02B27/58(2006.01)I |
代理机构 |
杭州天勤知识产权代理有限公司 33224 |
代理人 |
胡红娟 |
主权项 |
一种基于微结构的移频超分辨显微成像方法,其特征在于,包括以下几个步骤:1)将入射照明光垂直照射在微结构上产生表面波,样品放置在与微结构连接的平板介质波导上;2)使用表面波对样品表面进行照明,并通过显微镜从远场接收强度图像;3)对所述的强度图像进行傅里叶变换得到相应频谱,使用移频算法对所得到的频谱进行还原,并得到相应的频谱还原图像;4)改变表面波导入样品的方向,直至覆盖0~360°,每次均重复步骤2)和步骤3),得到不同方向下的频谱还原图像;5)对不同方向下的频谱还原图像进行叠加,得到完整的高频频谱图像;6)对所述完整的高频频谱图像进行傅里叶反变换,得到观察样品的超分辨显微图像。 |
地址 |
310027 浙江省杭州市西湖区浙江大路38号 |