发明名称 鳍式场效应晶体管结构及其制作方法
摘要 本发明提供了一种鳍式场效应晶体管结构及其制作方法。该鳍式场效应晶体管结构制作方法包括:通过光刻及刻蚀在衬底上形成初始鳍状结构;在初始鳍状结构上外延生长至少包含第一材料层和第二材料层的倒U型薄膜叠层结构;在倒U型薄膜叠层结构的外侧填充第三材料;对第三材料和倒U型薄膜叠层结构进行刻蚀,从而暴露出初始鳍状结构;进一步刻蚀第一材料层,从而暴露出由初始鳍状结构和第二材料层形成的鳍状结构。
申请公布号 CN105047717A 申请公布日期 2015.11.11
申请号 CN201510375549.3 申请日期 2015.06.30
申请人 上海华力微电子有限公司 发明人 鲍宇
分类号 H01L29/78(2006.01)I;H01L21/336(2006.01)I;H01L29/16(2006.01)I 主分类号 H01L29/78(2006.01)I
代理机构 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 代理人 智云
主权项 一种鳍式场效应晶体管结构制作方法,其特征在于包括:第一步骤:通过光刻及刻蚀在衬底上形成初始鳍状结构;第二步骤:在初始鳍状结构上外延生长至少包含第一材料层和第二材料层的倒U型薄膜叠层结构;第三步骤:在倒U型薄膜叠层结构的外侧填充第三材料;第四步骤:对第三材料和倒U型薄膜叠层结构进行刻蚀,从而暴露出初始鳍状结构;第五步骤:进一步刻蚀第一材料层,从而暴露出由初始鳍状结构和第二材料层形成的鳍状结构。
地址 201203 上海市浦东新区张江开发区高斯路568号