| 摘要 |
자동화된 시험 장비를 사용하는 시험 방법이 제시된다. 방법은 시스템 제어기로부터 시험기 프로세서로 자동화된 시험을 수행하기 위한 명령어를 송신하는 단계를 포함하고, 명령어는 기술자 모듈(descriptor module)을 위한 파라미터를 포함한다. 방법은 시험기 프로세서에 연결된 인스턴스화된(instantiated) FPGA 블록 상에 기술자 모듈을 구현하기 위한 재구성가능한 회로를 프로그래밍하는 단계를 또한 포함한다. 또한, 방법은 재구성가능한 회로를 사용하여 기술자 모듈로부터 파라미터를 해석하는 단계를 포함하고, 파라미터는 인스턴스화된 FPGA 블록에 연결된 DUT 상의 복수의 시험 동작의 실행을 제어한다. 추가적으로, 방법은 파라미터에 따라 적어도 하나의 패킷을 구성하는 단계를 포함하고, 적어도 하나의 패킷의 각각의 패킷은 DUT 상에 시험 동작을 실행하기 위한 커맨드를 포함한다. 마지막으로, 방법은 DUT에 적어도 하나의 패킷을 라우팅하기 위해 DUT와의 핸드셰이크(handshake)를 수행하는 단계를 포함한다. |
