| 发明名称 |
红外线热影像系统及其分析自由皮瓣表面温度影响因素的方法 |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
TWI507172 |
申请公布日期 |
2015.11.11 |
| 申请号 |
TW102132946 |
申请日期 |
2013.09.12 |
| 申请人 |
汉唐集成股份有限公司;彭成康 |
发明人 |
彭成康;张欧 |
| 分类号 |
A61B5/00;A61B5/01 |
主分类号 |
A61B5/00 |
| 代理机构 |
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代理人 |
桂齐恒 台北市中山区长安东路2段112号9楼;林景郁 台北市中山区长安东路2段112号9楼 |
| 主权项 |
一种红外线热影像系统分析自由皮瓣表面温度影响因素的方法，是在一红外线热影像系统中执行以下步骤：取得一自由皮瓣的红外线热影像，据以提供一实测表面温度；取得前述自由皮瓣所在环境的室温；取得前述自由皮瓣的一核心温度；根据室温与自由皮瓣的核心温度运算产生一预测表面温度；当实测表面温度接近预测表面温度时，产生一提示讯息；该预测表面温度根据下式取得：Ts’=k(hL+k)-1Tc+hL(hL+k)-1Tr，其中Ts’=预测表面温度，k=皮瓣传导常数，L=皮瓣厚度Tc=核心温度，Ts=实测表面温度，h=空气对流常数Tr=室温。 |
| 地址 |
台北市北投区石牌路2段312号 |
