发明名称 Probecard und Testausrüstung damit
摘要 Probecard (100) zum Inkontaktbringen mit einem LED-Chip (50) vom Flip-Chip-Typ, dadurch gekennzeichnet, dass die Probecard (100) umfasst: eine Schaltplatte (110) mit einer Befestigungs-Oberfläche (110a) und einer seitliche Kante (110b); zwei Sonden (120), von denen jede (120) einen Verbindungsbereich (120a) aufweist, der auf der Schaltplatte (110) befestigt ist, einen Erstreckungsbereich (120b), der sich von dem Verbindungsbereich (120a) erstreckt, einen Träger-Bereich (120c), der mit dem Erstreckungsbereich (120b) verbunden ist und von der seitlichen Kante vorsteht (110b), und einen Kontakt-Bereich (120d), der sich von dem Träger-Bereich (120c) erstreckt; und einen Fixierungssitz (130), der auf der Befestigungs-Oberfläche (110a) der Schaltplatte (110) befestigt und mit einer Fixierungs-Oberfläche (130a) versehen ist; worin ein Teil des Erstreckungsbereichs (120b) einer jeden Sonde zwischen der Schaltplatte (110) und dem Fixierungssitz (130) angeordnet ist.
申请公布号 DE202015104269(U1) 申请公布日期 2015.11.11
申请号 DE201520104269U 申请日期 2015.08.13
申请人 MPI CORPORATION 发明人
分类号 G01R1/073;G01R31/26;H01L25/075 主分类号 G01R1/073
代理机构 代理人
主权项
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