发明名称 | 封装件、半导体封装结构及其制法 | ||
摘要 | |||
申请公布号 | TWI508249 | 申请公布日期 | 2015.11.11 |
申请号 | TW101111658 | 申请日期 | 2012.04.02 |
申请人 | 矽品精密工业股份有限公司 | 发明人 | 陈彦亨;黄荣邦;廖信一;邱世冠;马光华 |
分类号 | H01L23/52;H01L21/768 | 主分类号 | H01L23/52 |
代理机构 | 代理人 | 陈昭诚 台北市中正区杭州南路1段15之1号9楼 | |
主权项 | 一种封装件,系包括:介电层,系具有相对之第一表面与第二表面;至少一半导体晶片,系嵌埋于该介电层中,且具有相对之作用面与外露于该介电层之第二表面之非作用面,该作用面具有复数电极垫,且该非作用面系与该介电层之第二表面齐平;复数第一金属柱,系形成于该至少一半导体晶片的电极垫上,且该第一金属柱之顶端系外露于该第一表面;至少一第二金属柱,系贯穿该介电层且两端分别外露于该第一表面与第二表面;第一线路层,系形成于该第一表面上,且电性连接该第一金属柱与第二金属柱;以及第二线路层,系形成且凸出于该第二表面上,且电性连接该第二金属柱。 | ||
地址 | 台中市潭子区大丰路3段123号 |