发明名称 用于LED结温K系数的测试装置
摘要 本发明属于半导体器件测试技术领域,一种用于LED结温K系数的测试装置,包括温度控制器、设置在所述温度控制器上的恒温槽、导电探针和弹簧片;所述恒温槽内设置有用于固定LED的空间,所述的恒温槽侧壁上设置有通孔,所述导电探针通过所述通孔一端进入恒温槽内;所述的弹簧片两端分别与所述温度控制器和位于恒温槽外导电探针连接。本发明的有益效果是,恒温性能较好,实用性强,能够减少测量误差,且更换被测样品方便,略去常规LED引脚与导线焊接等繁琐过程,效率高,可满足多种LED型号测试要求。
申请公布号 CN105044583A 申请公布日期 2015.11.11
申请号 CN201510307527.3 申请日期 2015.06.05
申请人 江苏理工学院 发明人 王田虎;罗印升;颜怡;宋伟;张晓玲
分类号 G01R31/26(2014.01)I;G01R31/44(2006.01)I;G01R1/067(2006.01)I;G05D23/19(2006.01)I 主分类号 G01R31/26(2014.01)I
代理机构 常州佰业腾飞专利代理事务所(普通合伙) 32231 代理人 翁斌
主权项 一种用于LED结温K系数的测试装置,其特征在于:包括温度控制器(1)、设置在所述温度控制器(1)上的恒温槽(2)、导电探针(3)和弹簧片(4);所述恒温槽(2)内设置有用于固定LED(5)的空间,所述的恒温槽(2)侧壁上设置有通孔,所述导电探针(3)通过所述通孔一端进入恒温槽(2)内;所述的弹簧片(4)两端分别与所述温度控制器(1)和位于恒温槽(2)外的导电探针(3)连接。
地址 213001 江苏省常州市中吴大道1801号