摘要 |
<p>L'invention concerne un procédé et une machine de test d'un dispositif électronique, dans lequel le champ magnétique émis est mesuré par une sonde (46) de mesure monodirectionnelle caractérisé en ce que : - une première valeur (Bz1) de la composante Bz du champ magnétique selon l'axe ZZ' est mesurée par la sonde (46) et enregistrée, puis la sonde (46) et le dispositif électronique sont déplacés l'un par rapport à l'autre par pivotement relatif autour d'un axe XX' orthogonal à l'axe ZZ' selon une amplitude angulaire inférieure à 90° en étant maintenus à la même distance d0 et, pour chaque position (x, y) de l'axe ZZ', une deuxième valeur (Bz2) de la composante Bz du champ magnétique selon l'axe ZZ' est mesurée par la sonde (46) et enregistrée, puis la valeur d'une composante By du champ magnétique selon un axe YY' orthogonal aux axes ZZ' et XX' est déterminée et enregistrée à partir de la première valeur (Bz1) et de la deuxième valeur (Bz2) obtenues.</p> |