发明名称 プログラマブルロジックデバイス、プログラマブルロジックデバイスのエラー検証方法、及びプログラマブルロジックデバイスの回路形成方法
摘要 【課題】プログラマブルロジックデバイスにおけるエラー検知率を向上させる。【解決手段】FPGA10の構成メモリに構成情報をロードすることによって、演算回路L1〜L3と検証回路21とを形成する。演算回路L1〜L3は、同じ演算機能を有しているが、回路ブロックの組み合わせが互いに異なっている。演算回路L1、L3は、DSPブロックを最大限使用する回路ブロックの組み合わせであり、演算回路L2は、DSPブロック以外の回路ブロックの組み合わせになっている。また、演算回路L1、L2は、データ保持メモリとして、ブロックRAMを使用し、演算回路L3は、データ保持メモリとして分散RAMを使用する。各演算回路L1〜L3は、入力データXがそれぞれ入力され、演算結果データV1〜V3を出力する。検証回路21は、演算結果データV1〜V3を比較してエラーの有無を検証する。【選択図】図2
申请公布号 JP5807887(B1) 申请公布日期 2015.11.10
申请号 JP20150094970 申请日期 2015.05.07
申请人 株式会社制御システム研究所 发明人 森本 賢一
分类号 H03K19/173 主分类号 H03K19/173
代理机构 代理人
主权项
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