发明名称 スペクトル画像診断のための方法及びシステム
摘要 <p>本方法は、所定の測定エネルギに基づいて第1スペクトル画像データから第1測定スペクトル画像を生成するステップを含む。本方法は、更に、第1測定スペクトル画像における第1関心領域について第1測定値を決定するステップを含む。本方法は、視覚的に提供される第1表示スペクトル画像における対応する第1関心領域に関連して第1測定値をオーバーレイするステップであって、測定エネルギは第1表示スペクトル画像の第1表示エネルギとは異なる、ステップを含む。</p>
申请公布号 JP2015532140(A) 申请公布日期 2015.11.09
申请号 JP20150535151 申请日期 2013.10.02
申请人 发明人
分类号 A61B6/03;G06T1/00 主分类号 A61B6/03
代理机构 代理人
主权项
地址