发明名称 |
一种磁环分选测试方法 |
摘要 |
本发明提供一种磁环分选测试方法,包括如下步骤:(1)将磁环的副边线圈感生电压的有效值预先设置成若干档位,将副边线圈感生电压的波峰系数比预先设置成若干档,将副边线圈感生电压的有效值的档位与波峰系数比的档位进行组合,得到若干个包含副边线圈感生电压的有效值的档位及波峰系数比的档位的组合档位;(2)测量被测磁环的副边线圈感生电压的有效值及波峰系数比;(3)将测得的被测磁环的副边线圈感生电压的有效值及波峰系数比与步骤(1)中的组合档位进行比较,若测得的被测磁环的副边线圈感生电压的有效值及波峰系数比均落入某一组合档位中的副边线圈感生电压的有效值的档位及波峰系数比的档位,则将该组合档位作为该磁环的分档。 |
申请公布号 |
CN105022008A |
申请公布日期 |
2015.11.04 |
申请号 |
CN201510387369.7 |
申请日期 |
2015.07.03 |
申请人 |
上海光溢照明电器有限公司 |
发明人 |
高强;杨伟权 |
分类号 |
G01R33/12(2006.01)I |
主分类号 |
G01R33/12(2006.01)I |
代理机构 |
上海翼胜专利商标事务所(普通合伙) 31218 |
代理人 |
翟羽 |
主权项 |
一种磁环分选测试方法,其特征在于,包括如下步骤:(1)将磁环的副边线圈感生电压的有效值预先设置成若干档位,将副边线圈感生电压的波峰系数比预先设置成若干档,将所述副边线圈感生电压的有效值的档位与副边线圈感生电压的波峰系数比的档位进行组合,得到若干个包含所述副边线圈感生电压的有效值的档位及副边线圈感生电压的波峰系数比的档位的组合档位; (2)测量被测磁环的副边线圈感生电压的有效值及副边线圈感生电压的波峰系数比;(3)将测得的被测磁环的副边线圈感生电压的有效值及副边线圈感生电压的波峰系数比与步骤(1)中的组合档位进行比较,若测得的被测磁环的副边线圈感生电压的有效值及副边线圈感生电压的波峰系数比均落入某一组合档位中的副边线圈感生电压的有效值的档位及副边线圈感生电压的波峰系数比的档位,则将该组合档位作为该磁环的分档。 |
地址 |
201209 上海市浦东新区曹路镇民风路258号2幢1楼 |