发明名称 通用测试装置
摘要 一种通用测试装置,用于测试待测物,其包含有承载盘、加压头以及多个弹性定位件;其中,承载盘设有测试槽,测试槽内设有探针;加压头可移动地设于承载盘并具有压块,该压块能够随着加压头移动而靠近测试槽并对待测物施加压力;弹性定位件设置于承载盘,并且围绕且贴近测试槽的外周缘;由此,弹性定位件能够让厚度较薄的待测物不易因受外力的影响而跑出测试槽外,而且,在测试过程中弹性定位件也不会影响到压块压抵待测物,因此压块无需个别设计而能通用,从而方便使用。
申请公布号 CN105021848A 申请公布日期 2015.11.04
申请号 CN201410153404.4 申请日期 2014.04.17
申请人 环旭电子股份有限公司;环鸿科技股份有限公司 发明人 高合助;李冠兴
分类号 G01R1/04(2006.01)I 主分类号 G01R1/04(2006.01)I
代理机构 上海音科专利商标代理有限公司 31267 代理人 张成新
主权项 一种通用测试装置,用于测试待测物,所述通用测试装置包含有:承载盘,所述承载盘上凹设有测试槽,所述测试槽设有多个探针;加压头,其以能够移动的方式设置于所述承载盘的上方,能够在加压位置与离开位置之间移动以分别靠近或远离所述测试槽,所述加压头的表面连接有压块,以对所述待测物施加压力;多个弹性定位件,其设置于所述承载盘,并且围绕且贴近所述测试槽的外周缘,用于定位所述待测物。
地址 201203 上海市浦东新区张江高科技园区集成电路产业区张东路1558号