发明名称 轴承套圈内孔为圆锥孔的全参数测量系统及方法
摘要 本发明涉及轴承套圈内孔为圆锥孔的全参数测量系统及方法,系统包括设于测量平台上的测量支点、辅助支点和两个带有位移传感器的测头,该两个传感器测头的输出信号依次传入顺次连接的信号放大模块、信号处理模块和显示模块,所述信号处理模块还输入连接有输入设备;本发明测量装置调整简单,属于轴承常用仪器,能满足批量生产现场的测量需要,测量成本大大降低;单一工位可完成锥孔全项技术参数的测量,工作效率大大提高;采用的简单电路控制部分完成较为繁琐的计算过程,杜绝了操作人员人为测量误差的产生,同时减轻操作人员劳动强度;电路控制部分还能实现测量数据的保存与处理,便于质量工程师对工序产品质量进行实时监测与控制。
申请公布号 CN102818545B 申请公布日期 2015.11.04
申请号 CN201210007681.5 申请日期 2012.01.11
申请人 洛阳轴研科技股份有限公司 发明人 马莹;范雨晴;李献会;仝楠;张伟
分类号 G01B21/00(2006.01)I;G01B21/22(2006.01)I;G01B21/10(2006.01)I 主分类号 G01B21/00(2006.01)I
代理机构 郑州睿信知识产权代理有限公司 41119 代理人 陈浩
主权项 一种内孔为圆锥孔的轴承套圈的全参数测量系统,其特征在于:包括设于测量平台上的测量支点、辅助支点和带有位移传感器B的测头(4)和带有位移传感器A的测头(5),带有位移传感器B的测头(4)和带有位移传感器A的测头(5)的输出信号依次传入顺次连接的信号放大模块、信号处理模块和显示模块,所述信号处理模块还输入连接有输入设备;所述测量支点、辅助支点和带有位移传感器A的测头(5)三点呈90°分布于待测轴承套圈内孔小端同一径向平面内,且测量支点和带有位移传感器A的测头(5)设于沿内孔直径的同一条直线上;带有位移传感器B的测头(4)置于测量支点的正上方,该带有位移传感器B的测头(4)与测量支点位于内孔表面的同一母线上;所述测量支点和辅助支点为硬质合金支点。
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