发明名称 |
一种射频测试座和射频测试线缆 |
摘要 |
本发明公开了一种射频测试座和射频测试线缆,涉及射频测试技术领域,其射频测试方法包括:第一测试装置与第二测试装置通过射频测试座中的连接第一测试装置的第一弹性装置和连接第二测试装置的第二弹性装置进行连接;射频测试线缆的绝缘顶针装置通过顶压所述第二弹性装置,断开射频测试座与第二测试装置连接,以便经由所述射频测试头和所述第一弹性装置对第一测试装置进行测试;射频测试线缆的绝缘顶针装置通过顶压所述第一弹性装置,断开射频测试座与第一测试装置连接,以便经由所述射频测试头和所述第二弹性装置对第二测试装置进行测试。 |
申请公布号 |
CN105025139A |
申请公布日期 |
2015.11.04 |
申请号 |
CN201410180990.1 |
申请日期 |
2014.04.30 |
申请人 |
中兴通讯股份有限公司 |
发明人 |
刘锋昱 |
分类号 |
H04M1/24(2006.01)I |
主分类号 |
H04M1/24(2006.01)I |
代理机构 |
北京元本知识产权代理事务所 11308 |
代理人 |
秦力军 |
主权项 |
一种射频测试座,其特征在于,包括:射频测试机座;固定在所述射频测试机座内的连接装置;固定在所述射频测试机座内的第一弹性装置和第二弹性装置,分别与所述连接装置弹性连接。 |
地址 |
518057 广东省深圳市南山区高新技术产业园科技南路中兴通讯大厦法务部 |