发明名称 | 一种可控阻尼器测试装置 | ||
摘要 | 一种可控阻尼测试装置,其特征在于包括测试台,控制系统和电缆网;所述测试台包括机械平台,高低温箱,驱动测试组件,加载测试组件和传动轴;所述高低温箱,驱动测试组件和加载测试组件安装在所述机械平台上,所述高低温箱设有门,所述高低温箱内置增速器支架或可控阻尼器支架;所述驱动测试组件和加载测试组件通过所述传动轴与所述高低温箱内的增速器支架或可控阻尼器支架相连,所述控制系统通过所述电缆网分别与所述高低温箱,驱动测试组件和加载测试组件相连接。本发明解决现有技术中测试效率低的问题,具有能够在不同温度状态下获取增速器效率、可控阻尼器效率和扭矩曲线信息的有益效果。 | ||
申请公布号 | CN105021379A | 申请公布日期 | 2015.11.04 |
申请号 | CN201410175671.1 | 申请日期 | 2014.04.28 |
申请人 | 上海航天设备制造总厂 | 发明人 | 祁峰;杨文涛 |
分类号 | G01M13/00(2006.01)I | 主分类号 | G01M13/00(2006.01)I |
代理机构 | 上海航天局专利中心 31107 | 代理人 | 金家山 |
主权项 | 一种可控阻尼测试装置,其特征在于包括测试台,控制系统和电缆网;所述测试台包括机械平台,高低温箱,驱动测试组件,加载测试组件和传动轴;所述高低温箱,驱动测试组件和加载测试组件安装在所述机械平台上,所述驱动测试组件和加载测试组件分布在所述高低温箱的两侧;所述高低温箱设有门,所述高低温箱内置增速器支架或可控阻尼器支架;所述驱动测试组件和加载测试组件通过所述传动轴与所述高低温箱内的增速器支架或可控阻尼器支架相连;所述控制系统控制所述驱动测试组件,所述驱动测试组件驱动所述增速器或可控阻尼器,所述控制系统控制所述加载测试组件对所述增速器或可控阻尼器进行加载,所述控制系统采集所述驱动测试组件返回的转速、转角和转矩信号,所述控制系统通过所述电缆网分别与所述高低温箱,驱动测试组件和加载测试组件相连接。 | ||
地址 | 200245 上海市闵行区华宁路100号 |