发明名称 |
通道内颗粒物的在位式检测装置 |
摘要 |
本实用新型公开了一种通道内颗粒物的在位式检测装置,所述在位式检测装置包括光源、检测器及分析单元;进一步包括:安装件;探头,所述探头固定在所述安装件上,所述探头内具有光学通道和气体通道;所述光源发出的测量光依次穿过所述安装件、光学通道后从所述探头出射;所述气体通道与所述光学通道在测量光束处交汇。本实用新型具有检测精度高、结构简单、低成本等优点。 |
申请公布号 |
CN204740188U |
申请公布日期 |
2015.11.04 |
申请号 |
CN201520499900.5 |
申请日期 |
2015.07.08 |
申请人 |
杭州泽天科技有限公司 |
发明人 |
王大伟;于志伟;杨凤琴;付聪 |
分类号 |
G01N15/06(2006.01)I |
主分类号 |
G01N15/06(2006.01)I |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
一种通道内颗粒物的在位式检测装置,所述在位式检测装置包括光源、检测器及分析单元;其特征在于:所述在位式检测装置进一步包括:安装件;探头,所述探头固定在所述安装件上,所述探头内具有光学通道和气体通道;所述光源发出的测量光依次穿过所述安装件、光学通道后从所述探头出射;所述气体通道与所述光学通道在测量光束处交汇。 |
地址 |
310052 浙江省杭州市滨江区浦沿街道园区中路22号2幢7层 |