发明名称 通道内颗粒物的在位式检测装置
摘要 本实用新型公开了一种通道内颗粒物的在位式检测装置,所述在位式检测装置包括光源、检测器及分析单元;进一步包括:安装件;探头,所述探头固定在所述安装件上,所述探头内具有光学通道和气体通道;所述光源发出的测量光依次穿过所述安装件、光学通道后从所述探头出射;所述气体通道与所述光学通道在测量光束处交汇。本实用新型具有检测精度高、结构简单、低成本等优点。
申请公布号 CN204740188U 申请公布日期 2015.11.04
申请号 CN201520499900.5 申请日期 2015.07.08
申请人 杭州泽天科技有限公司 发明人 王大伟;于志伟;杨凤琴;付聪
分类号 G01N15/06(2006.01)I 主分类号 G01N15/06(2006.01)I
代理机构 代理人
主权项 一种通道内颗粒物的在位式检测装置,所述在位式检测装置包括光源、检测器及分析单元;其特征在于:所述在位式检测装置进一步包括:安装件;探头,所述探头固定在所述安装件上,所述探头内具有光学通道和气体通道;所述光源发出的测量光依次穿过所述安装件、光学通道后从所述探头出射;所述气体通道与所述光学通道在测量光束处交汇。
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