一种半导体三极管放大倍数脉冲测试方法

摘要

本发明公开了一种半导体三极管放大倍数脉冲测试方法，属于半导体测试领域。其步骤包括：一、设立初始的恒压源电压；二、设立初始基极电流脉冲；三、对恒压源进行补偿；四、对基极电流进行补偿；五、判断静态工作点的准确性；六、设立正确静态工作点的恒压源电压；七、设立正确静态工作点的标准基极脉冲；八、对恒压源进行细微补偿；九、对基极电流进行细微补偿；十、计算放大倍数平均值。本发明能够在相关规定的时间内完成脉冲测试，极大的减少了管芯升温，并且本方法不是硬件闭环测试方法，将不易产生寄生振荡，且在技术上容易实现，成本低。

主权项

一种用于测试半导体三极管的放大倍数的测试方法，其特征在于，至少包括以下步骤：步骤一、设立初始的恒压源电压；步骤二、设立初始基极电流脉冲；步骤三、对恒压源进行补偿；步骤四、对基极电流进行补偿；步骤五、判断静态工作点的准确性；步骤六、设立正确静态工作点的恒压源电压；步骤七、设立正确静态工作点的标准基极脉冲；步骤八、对恒压源进行细微补偿；步骤九、对基极电流进行细微补偿；步骤十、计算放大倍数平均值。