发明名称 OPTIMIZATION OF VARIABLE RESISTANCE MEMORY CELLS
摘要 <p>데이터 스토리지 디바이스는 일반적으로 제어기에 의해 비-출하 동작 파라미터들을 갖도록 구성된 적어도 하나의 가변적 저항 메모리 셀으로 구성되고 동작될 수 있다. 비-출하 동작 파라미터들은 적어도 하나의 가변적 저항 메모리 셀에서 미리 결정된 임계값으로부터 식별된 변화량에 응답하여 할당된다.</p>
申请公布号 KR101564573(B1) 申请公布日期 2015.11.02
申请号 KR20140012596 申请日期 2014.02.04
申请人 发明人
分类号 G11C13/00;G11C16/34 主分类号 G11C13/00
代理机构 代理人
主权项
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