发明名称 |
単一のポリ層を有する浮遊ゲートメモリセルの半導体メモリアレイを形成する自己整列方法 |
摘要 |
半導体メモリセルを形成する方法であって、同じポリ層から浮遊ゲート及びコントロールゲートを形成することを含む。絶縁、導電及び第2の絶縁材料の層が、基板の上に形成される。トレンチが、導電層へ下方に延在し、導電層を露出する、第2の絶縁材料に形成される。スペーサが、トレンチに形成され、導電層の一部を露出するトレンチの底部の小さく、かつ画定された隙間により離間される。その後、トレンチは、隙間を通って異方性エッチングを行うことにより、露出した導電層の一部を通って形成される。トレンチは、第3の絶縁材料で満たされる。導電層の選択された部分は除去され、第3の絶縁材料によって離間されたその2つのブロックが残される。 |
申请公布号 |
JP2015531549(A) |
申请公布日期 |
2015.11.02 |
申请号 |
JP20150534487 |
申请日期 |
2013.07.31 |
申请人 |
シリコン ストーリッジ テクノロージー インコーポレイテッドSILICON STORAGE TECHNOLOGY, INC. |
发明人 |
ドー ニャン;チワリ ヴィピン;トラン ヒュー ヴァン;リウ シアン |
分类号 |
H01L21/8247;H01L21/336;H01L27/115;H01L29/788;H01L29/792 |
主分类号 |
H01L21/8247 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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