導電性材料の異常を検出するための微分センサ、検査システム、及びその方法

摘要

導電性材料の異常を検出ための微分センサは、永久磁石（ＰＭ）と、永久磁石の周りに延び且つ第１のコイル軸（Ａ１）を定める１又はそれ以上の第１の巻線を有する第１のコイル（Ｓ１）と、永久磁石の周りに延び且つ第１のコイル軸に交差して、詳細には垂直に延びる第２のコイル軸（Ａ２）を定める１又はそれ以上の第２の巻線を有する第２のコイル（Ｓ２）と、を有する。好ましくは、垂直に配向された第３のコイル（Ｓ３）も設けられる。磁束の変化の成分を複数の空間方向に対して別個に検知して評価することができる。センサは検査システムの一部であり、該検査システムは、センサと、評価デバイス（Ａ）とを備え、該評価デバイスは、微分センサのコイル（Ｓ１、Ｓ２、Ｓ３）の巻線に誘導される電圧又はこれから生じる信号を各コイルに対して別個に検知して、これらを少なくとも１つの評価法を適用することにより相関付けるように構成される。【選択図】図１