发明名称 空白光罩、光罩及半导体积体电路之制造方法;PHOTO MASK BLANK, PHOTO MASK AND MANUFACTURING METHOD FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT
摘要 一种空白光罩,其系用于制作适用ArF准分子雷射光的光罩之空白光罩,其系在透光性基板上具有多层构造之薄膜,且前述薄膜的最上层系由含铬、与氮、氧及碳之中的至少一者之材料所构成的非晶构造。
申请公布号 TW201541185 申请公布日期 2015.11.01
申请号 TW104123695 申请日期 2009.03.31
申请人 HOYA股份有限公司 HOYA CORPORATION 发明人 岩下浩之 IWASHITA, HIROYUKI;宍戸博明 SHISHIDO, HIROAKI;小凑淳志 KOMINATO, ATSUSHI;桥本雅广 HASHIMOTO, MASAHIRO;细谷守男 HOSOYA, MORIO
分类号 G03F1/22(2012.01);H01L21/027(2006.01) 主分类号 G03F1/22(2012.01)
代理机构 代理人 何金涂
主权项
地址 日本 JP