发明名称 量子产率测定装置
摘要
申请公布号 TWI506268 申请公布日期 2015.11.01
申请号 TW100133292 申请日期 2011.09.15
申请人 滨松赫德尼古斯股份有限公司 发明人 井口和也
分类号 G01N21/64 主分类号 G01N21/64
代理机构 代理人 陈长文 台北市松山区敦化北路201号7楼
主权项 一种量子产率测定装置,其系藉由将激发光照射至用以收纳试料之试料管之试料收纳部,并检测自上述试料及上述试料收纳部之至少一者放出的被测定光,来测定上述试料之量子产率者,其系包含:于内部配置上述试料收纳部之暗箱;具有连接于上述暗箱之光出射部,且产生上述激发光之光产生部;具有连接于上述暗箱之光入射部,并检测上述被测定光之光检测部;具有使上述激发光入射之光入射开口、及使上述被测定光出射之光出射开口、且配置于上述暗箱内之积分球;及以成为上述试料收纳部位于上述积分球内之第1状态、及上述试料收纳部位于积分球外之第2状态之各自的状态之方式,使上述试料收纳部、上述光出射部、及上述光入射部移动,并于上述第1状态,使上述光出射部对向于上述光入射开口,且使上述光入射部对向于上述光出射开口之移动机构。
地址 日本