发明名称 优化深度资讯的方法与装置;METHOD AND APPARATUS FOR OPTIMIZING DEPTH INFORMATION
摘要 一种优化深度资讯的方法与装置。将左影像与右影像其中之一划分成多个相关区块,以获取至少一区块分布图。获取待修复深度图,并依据多个主深度值与相机参数将待修复深度图区分成多个深度平面,其中待修复深度图纪录这些主深度值且具有多个破洞。利用区块分布图而分别对各深度平面中的破洞产生多个优化深度值,并将这些优化深度值填补至各深度平面而获取优化深度图。
申请公布号 TW201541938 申请公布日期 2015.11.01
申请号 TW103115567 申请日期 2014.04.30
申请人 聚晶半导体股份有限公司 ALTEK SEMICONDUCTOR CORP. 发明人 锺育佳 CHUNG, YU CHIA;张文彦 CHANG, WEN YAN;曾家俊 TSENG, CHIA CHUN;李运锦 LEE, YUN CHIN
分类号 H04N13/00(2006.01);G06T15/08(2011.01) 主分类号 H04N13/00(2006.01)
代理机构 代理人 叶璟宗詹东颖刘亚君
主权项
地址 新竹市新竹科学工业园区力行路12号3楼 TW
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