发明名称 |
激光测量核孔膜均匀度的装置 |
摘要 |
本实用新型涉及一种激光测量核孔膜均匀度的装置,其主要特点在于包括有支架,支架包括有水平支架和竖直支架,在竖直支架的上端设有激光器,在竖直支架的中部设有二维平移台,其二维平移台的台面为透明板:在水平支架上设有光探测器;激光器与光探测器在一个中心线上。本实用新型的优点是:采用可调束斑大小激光可以精准探测所需要了解的位置点的信息,可以根据不同的扫描方式,来统计所关心的不同位置的信息。这种扫描的方式,可以通过计算机编程,自动的进行获取,从而迅速得到样品的均匀度信息。 |
申请公布号 |
CN204731151U |
申请公布日期 |
2015.10.28 |
申请号 |
CN201520158290.2 |
申请日期 |
2015.03.20 |
申请人 |
中国科学院近代物理研究所 |
发明人 |
莫丹;袁平;刘杰;曹殿亮;刘建德;张胜霞 |
分类号 |
G01N21/17(2006.01)I;G01N21/59(2006.01)I |
主分类号 |
G01N21/17(2006.01)I |
代理机构 |
兰州振华专利代理有限责任公司 62102 |
代理人 |
张真 |
主权项 |
一种激光测量核孔膜均匀度的装置,其特征在于包括有支架,支架包括有水平支架和竖直支架,在竖直支架的上端设有激光器,在竖直支架的中部设有二维平移台,其二维平移台的台面为透明板:在水平支架上设有光探测器;激光器与光探测器在一个中心线上。 |
地址 |
730000 甘肃省兰州市南昌路363号科技处 |