发明名称 减少X射线成像检查中使用的放射剂量的方法及CT系统
摘要 本发明涉及一种方法以及一种X射线系统,特别是一种CT系统(C1),其中,为了减少在成像X射线检查中使用的放射剂量,对所拍摄的每个像素确定在被检查的像素周围给定距离内的可能存在的结构的结构信息,并在每个被检查的像素上应用取决于方向的低通滤波器,该低通滤波器的空间作用范围小于所述给定距离,并且,通过该低通滤波器的取决于方向的权重来考虑可能存在的结构的形态学信息。
申请公布号 CN102525531B 申请公布日期 2015.10.28
申请号 CN201110362931.2 申请日期 2011.11.16
申请人 西门子公司 发明人 H.布鲁德;T.弗洛尔;R.劳佩克
分类号 A61B6/03(2006.01)I;A61B19/00(2006.01)I;G06F19/00(2011.01)I 主分类号 A61B6/03(2006.01)I
代理机构 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人 谢强
主权项 一种用于在X射线成像检查中减少所使用的放射剂量的方法,包括下列方法步骤:1.1.通过X射线来扫描或者透视患者(P),1.2.产生具有大量像素的投影图像或者X射线断层图像(3.1),并且1.3.对图像进行滤波以改善图像的质量,其特征在于,在步骤1.3.中对图像进行滤波包括以下步骤:对每个像素在围绕所检查的像素具有第一半径的圆内寻找结构信息,包括可能找到的结构的方向信息,以及在所检查的像素上应用取决于方向的低通滤波器,其中,一方面该低通滤波器的空间作用范围小于所述第一半径,并且,另一方面将可能找到的结构的方向信息考虑为低通滤波器的取决于方向的权重,其中,使用扩散滤波器作为取决于方向的低通滤波器,其中,所述扩散滤波器通过对局部滤波步骤的迭代应用来实现,其中,对在位置p的像素值V(p)定义所述局部滤波步骤如下:<maths num="0001" id="cmaths0001"><math><![CDATA[<mrow><msup><mi>V</mi><mo>&prime;</mo></msup><mrow><mo>(</mo><mi>p</mi><mo>)</mo></mrow><mo>=</mo><mi>V</mi><mrow><mo>(</mo><mi>p</mi><mo>)</mo></mrow><mo>+</mo><mi>&alpha;</mi><munder><mi>&Sigma;</mi><mi>q</mi></munder><msub><mi>g</mi><mrow><mi>q</mi><mo>,</mo><mi>p</mi></mrow></msub><mo>&CenterDot;</mo><mrow><mo>(</mo><mi>V</mi><mrow><mo>(</mo><mi>q</mi><mo>)</mo></mrow><mo>-</mo><mi>V</mi><mrow><mo>(</mo><mi>p</mi><mo>)</mo></mrow><mo>)</mo></mrow><mo>&CenterDot;</mo><mi>H</mi><mrow><mo>(</mo><mfrac><mrow><mo>|</mo><mi>V</mi><mrow><mo>(</mo><mi>q</mi><mo>)</mo></mrow><mo>-</mo><mi>V</mi><mrow><mo>(</mo><mi>p</mi><mo>)</mo></mrow><mo>|</mo></mrow><mi>&sigma;</mi></mfrac><mo>)</mo></mrow><mo>,</mo></mrow>]]></math><img file="FDA0000729993100000011.GIF" wi="1184" he="161" /></maths>其中,-α是确保上述公式迭代成功的合适的系数,‑q表示p的相邻像素,σ表示局部噪声振幅,‑g<sub>q,p</sub>定义在局部空间的滤波器系数,以及‑感应函数H确定取决于局部对比噪声比(CNR)、即|V(q)‑V(p)|/σ的滤波强度。
地址 德国慕尼黑