发明名称 |
互连线电迁移寿命的确定方法 |
摘要 |
本发明提供互连线电迁移寿命的确定方法,包括:选择至少三种不同线宽的互连线,所述至少三种不同线宽的互连线均在同一确定工艺条件下形成;测试每种线宽互连线不同结构的失效时间,利用统计分布得到每种线宽互连线相应的平均失效时间;根据black方程,得到确定温度、确定电流密度时,每种线宽互连线的归一化寿命;利用二次多项式,拟合得到互连线归一化寿命与线宽的二次函数关系式;通过所述二次函数关系式对应的曲线,得到最坏情况下的电迁移寿命,从而得到该最坏情况下的电迁移寿命对应的线宽。采用此发明方法可以精确评估该互连线最坏情况下的电迁移寿命,并为开发金属工艺提供重要信息。<pb pnum="1" /> |
申请公布号 |
CN102116828B |
申请公布日期 |
2015.10.28 |
申请号 |
CN201010604728.7 |
申请日期 |
2010.12.24 |
申请人 |
上海集成电路研发中心有限公司 |
发明人 |
唐逸;周伟;任铮;冯程程;陶金龙;陈寿面 |
分类号 |
G01R31/26(2014.01)I |
主分类号 |
G01R31/26(2014.01)I |
代理机构 |
上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 |
代理人 |
郑玮 |
主权项 |
互连线电迁移寿命的确定方法,其特征在于,包括如下步骤:选择至少三种不同线宽的互连线,所述至少三种不同线宽的互连线均在同一确定工艺条件下形成;测试每种线宽互连线不同结构的失效时间,利用统计分布得到每种线宽互连线相应的平均失效时间;根据black方程,得到确定温度、确定电流密度时,每种线宽互连线的归一化寿命;利用二次多项式,拟合得到互连线归一化寿命与线宽的二次函数关系式;通过所述二次函数关系式对应的曲线,得到最坏情况下的电迁移寿命,从而得到该最坏情况下的电迁移寿命对应的线宽。 |
地址 |
201210 上海市浦东新区张江高斯路497号 |