发明名称 半导体激光器测试系统(近场非线性)
摘要 1.本外观设计产品的名称:半导体激光器测试系统(近场非线性)。2.本外观设计产品的用途:本外观设计产品用于半导体激光器近场非线性特性的测试。3.本外观设计产品的设计要点:结构。4.最能表明本外观设计设计要点的图片或照片:立体图。
申请公布号 CN303422411S 申请公布日期 2015.10.28
申请号 CN201530187238.5 申请日期 2015.06.09
申请人 西安炬光科技有限公司 发明人 刘兴胜;王昊;刘晖
分类号 10-05(10) 主分类号 10-05(10)
代理机构 代理人
主权项
地址 710077 陕西省西安市高新区丈八六路56号陕西省高功率半导体激光器产业园内