发明名称 | 半导体激光器测试系统(近场非线性) | ||
摘要 | 1.本外观设计产品的名称:半导体激光器测试系统(近场非线性)。2.本外观设计产品的用途:本外观设计产品用于半导体激光器近场非线性特性的测试。3.本外观设计产品的设计要点:结构。4.最能表明本外观设计设计要点的图片或照片:立体图。 | ||
申请公布号 | CN303422411S | 申请公布日期 | 2015.10.28 |
申请号 | CN201530187238.5 | 申请日期 | 2015.06.09 |
申请人 | 西安炬光科技有限公司 | 发明人 | 刘兴胜;王昊;刘晖 |
分类号 | 10-05(10) | 主分类号 | 10-05(10) |
代理机构 | 代理人 | ||
主权项 | |||
地址 | 710077 陕西省西安市高新区丈八六路56号陕西省高功率半导体激光器产业园内 |