微小颗粒测定装置和光轴校准方法

摘要

本发明公开了微小颗粒测定装置和光轴校准方法，该微小颗粒测定装置，包括：光会聚单元，用于将照射到微小粒子所穿过的样本流的、直线传播而无散射的照射光以及被微小粒子散射的散射光会聚到被分割为多个区域的光接收器；位置控制器，用于控制构成光路的部件的相对位置；以及控制单元，用于基于光接收器的每个区域的信号强度来检测照射光和散射光的会聚光斑的位置，并且控制位置控制器，以使得照射光的会聚光斑位置和散射光的会聚光斑位置彼此一致。

主权项

一种微小颗粒测定装置，包括：光会聚单元，用于将照射到微小颗粒所穿过的样本流的、直线传播而无散射的照射光以及被所述微小颗粒散射的散射光会聚到被分割为多个区域的光接收器；位置控制器，用于控制构成光路的部件的相对位置；以及控制单元，用于基于所述光接收器的每个区域的信号强度来检测所述照射光和所述散射光的会聚光斑的位置，并且控制所述位置控制器，以使得所述照射光的所述会聚光斑的位置和所述散射光的所述会聚光斑的位置彼此一致；所述照射光使用所述样本流上的激光光斑作为物点并使用所述光接收器的光接收面上的会聚光斑作为像点，所述散射光使用所述样本流内的微小颗粒作为物点，并且使用所述光接收器的光接收面上的会聚光斑作为像点。