发明名称 一种电缆绝缘介质谱及绝缘状态耐压检测方法及装置
摘要 本发明提供了一种电缆绝缘介质谱及绝缘状态耐压检测方法及装置。在被检测电缆上施加周期变化的指数波形电压;在指数波的上升沿或下降沿通过波形电压和电流的频域相位关系计算被检测绝缘电缆的介质损耗正切值曲线;还包括耐压检测:提高施加电压等级,直至达到被检测电缆最高允许施加电压值或加压过程中发现击穿现象或潜在击穿风险,并记录该最高电压值;随着电缆寿命增长重复该耐压检测,记录随着电缆寿命增长发生的耐压变化趋势与数据分散性。设备体积小,更加轻便;激励源设备体积小;不存在电荷累积效应;对电缆损伤更小;激励电压等级可调;能够用于检测高压配电电缆的介质谱。
申请公布号 CN105004971A 申请公布日期 2015.10.28
申请号 CN201510287426.4 申请日期 2015.05.29
申请人 广西电网有限责任公司电力科学研究院 发明人 李婧;黄锋;郭金明;唐捷;陈智勇;邓雨荣
分类号 G01R31/12(2006.01)I 主分类号 G01R31/12(2006.01)I
代理机构 成都九鼎天元知识产权代理有限公司 51214 代理人 韩雪
主权项 一种电缆绝缘介质谱及绝缘状态耐压检测方法,具体方法为:在被检测电缆上施加周期变化的指数波形电压;在指数波的上升沿或下降沿通过波形电压和电流的频域相位关系计算被检测绝缘电缆的介质损耗正切值曲线;所述周期变化的指数波形电压的波形满足以下表达式:<maths num="0001" id="cmaths0001"><math><![CDATA[<mrow><msub><mi>U</mi><mn>0</mn></msub><mo>=</mo><mfenced open='{' close=''><mtable><mtr><mtd><msub><mi>V</mi><mi>in</mi></msub><mrow><mo>(</mo><mn>1</mn><mo>-</mo><msup><mi>e</mi><mrow><mo>-</mo><mi>&alpha;</mi><mrow><mo>(</mo><mi>t</mi><mo>-</mo><msub><mi>t</mi><mn>0</mn></msub><mo>)</mo></mrow></mrow></msup><mo>)</mo></mrow><mo>,</mo></mtd><mtd><msub><mi>t</mi><mn>0</mn></msub><mo>&le;</mo><mi>t</mi><mo>&le;</mo><msub><mi>t</mi><mn>1</mn></msub><mo>;</mo></mtd></mtr><mtr><mtd><msub><mi>V</mi><mi>in</mi></msub><msup><mi>e</mi><mrow><mo>-</mo><mi>&alpha;</mi><mrow><mo>(</mo><mi>t</mi><mo>-</mo><msub><mi>t</mi><mn>1</mn></msub><mo>)</mo></mrow></mrow></msup><mo>,</mo></mtd><mtd><msub><mi>t</mi><mn>1</mn></msub><mo>&le;</mo><mi>t</mi><mo>&le;</mo><msub><mi>t</mi><mn>2</mn></msub><mo>;</mo></mtd></mtr><mtr><mtd><msub><mi>V</mi><mi>in</mi></msub><mrow><mo>(</mo><mn>1</mn><mo>-</mo><msup><mi>e</mi><mrow><mo>-</mo><mi>&alpha;</mi><mrow><mo>(</mo><mi>t</mi><mo>-</mo><msub><mi>t</mi><mn>2</mn></msub><mo>)</mo></mrow></mrow></msup><mo>)</mo></mrow><mo>,</mo></mtd><mtd><msub><mi>t</mi><mn>2</mn></msub><mo>&le;</mo><mi>t</mi><mo>&le;</mo><msub><mi>t</mi><mn>3</mn></msub><mo>;</mo></mtd></mtr><mtr><mtd><msub><mi>V</mi><mi>in</mi></msub><msup><mi>e</mi><mrow><mo>-</mo><mi>&alpha;</mi><mrow><mo>(</mo><mi>t</mi><mo>-</mo><msub><mi>t</mi><mn>3</mn></msub><mo>)</mo></mrow></mrow></msup><mo>.</mo></mtd><mtd><msub><mi>t</mi><mn>3</mn></msub><mo>&le;</mo><mi>t</mi><mo>&le;</mo><msub><mi>t</mi><mn>4</mn></msub><mo>;</mo></mtd></mtr></mtable></mfenced></mrow>]]></math><img file="FDA0000727374000000011.GIF" wi="1028" he="420" /></maths>其中,U<sub>0</sub>为所述周期变化的指数波形电压的波形;V<sub>in</sub>为预设的电压幅值;α为指数波形衰减参数,其值由指数波形激励源设定参数与被检测电缆电容容值和绝缘电阻参数决定;t<sub>0</sub>~t<sub>4</sub>依次等时间间隔分布;所述方法还包括耐压检测:提高施加电压等级,直至达到被检测电缆最高允许施加电压值或加压过程中发现击穿现象或潜在击穿风险,并记录该最高电压值;随着电缆寿命增长重复该耐压检测,记录随着电缆寿命增长发生的耐压变化趋势与数据分散性。
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