发明名称 一种测定样品浊点的方法
摘要 本发明提供了一种测定样品浊点的方法。该方法利用集成CCD相机的显微镜观察拍摄测试样品在不同温度下的数字图像,通过测定各数字图像的平均灰度值而计算出所对应温度下该样品的光学透过率,该光学透过率随温度的变化线中光学透过率开始下降处所对应的温度即为该样品的浊点。与现有的测定样品浊点的目测法相比,该方法在测定样品浊点时能够很大程度上减小由于人眼观测而造成的误差,提高了测试结果的准确性。
申请公布号 CN103529069B 申请公布日期 2015.10.28
申请号 CN201310505206.5 申请日期 2013.10.22
申请人 中国科学院宁波材料技术与工程研究所 发明人 莫高明;张若愚;王艳菲;杨建行
分类号 G01N25/02(2006.01)I 主分类号 G01N25/02(2006.01)I
代理机构 北京鸿元知识产权代理有限公司 11327 代理人 单英
主权项 一种测定样品浊点的方法,其特征是:包括以下步骤:步骤1:将待测样品置于温度可控的样品池中,利用集成CCD相机的显微镜对样品进行观察拍摄,具体为:首先,调节显微镜参数和CCD相机参数,并固定该参数;然后,调节样品池温度为不同值,在该温度调节过程中,集成CCD相机的显微镜对样品进行观察拍摄,并且用图像捕捉软件获取样品在不同温度条件下的数字图像;步骤2:对所述的数字图像进行分析,测定不同温度条件下数字图像的平均灰度值G<sub>i</sub>;然后通过以下公式计算出不同温度条件下样品的光学透过率τ<sub>i</sub>:<maths num="0001" id="cmaths0001"><math><![CDATA[<mrow><msub><mi>&tau;</mi><mi>i</mi></msub><mo>=</mo><mfrac><msub><mi>G</mi><mi>i</mi></msub><mn>255</mn></mfrac><mo>;</mo></mrow>]]></math><img file="FDA0000760408030000011.GIF" wi="243" he="129" /></maths>其中,完全透光状态下得到的数字图像的平均灰度值为255,完全不透光状态下得到的数字图像的平均灰度值为0;步骤3:对不同温度条件下样品的光学透过率τ<sub>i</sub>进行数据分析,得到样品的光学透过率随温度的变化线,该变化线中光学透过率下降前后所对应的两段趋势线的切线的交点所对应的温度即为该样品的浊点。
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