摘要 |
<p>sistema de processamento digital para determinação de impedância térmica de materiais empregando identificação recursiva. este invento refere-se a um novo método para determinar parâmetros térmicos de dispositivos semicondutores. o sistema permite determinar a resistência e a capacitância térmica do dispositivo empregando uma plataforma de controle de temperatura digital com base em um termo-elemento peltier. o princípio de funcionamento do sistema consiste em fornecer uma determinada quantidade de energia térmica à um dispositivo posicionado sobre o termo-elemento peltier, e monitorar a variação de temperatura no mesmo. através da curva de variação da temperatura são determinados os parâmetros que definem a impedância térmica do dispositivo. o sistema é composto por um display para visualização das informações (1), um processador digital de sinais - dsp (2), cabos de comunicação entre os termistores e o dsp (3), um termo-elemento peltier (4), um servo-amplificador como atuador do termo-elemento peltier (5), sinais de comando entre do dsp para o atuador (6), cabos de alimentação do termo-elemento peltier (7), um dissipador de calor (8), um dispositivo semicondutor como carga (9), um termistor para monitorar a temperatura do dispositivo ta (10) e um termistor para monitorar a temperatura da base do termo-elemento peltier tb (11).</p> |