发明名称 DUT METHOD FOR TESTING DEVICE UNDER TEST
摘要 <p>GPIB 케이블을 통해 PC에 접속된 테스트 장치와, UART 케이블 또는 USB 케이블을 통해 상기 PC에 접속되고 UTP 케이블을 통해 상기 테스트 장치에 접속된 지그를 이용하여 상기 지그에 마운트된 DUT를 테스트하는 방법은 상기 PC가 상기 테스트 장치의 테스트 모드를 송신 테스트 모드로 설정하기 위해 상기 테스트 장치의 스펙트럼 분석기와 신호 분배기를 접속시키는 단계와, 상기 PC가 송신 테스트 명령을 상기 DUT로 전송하는 단계와, 상기 DUT가 상기 송신 테스트 명령에 응답하여 송신 테스트 신호를 생성하고 생성된 송신 테스트 신호를 상기 테스트 장치로 전송하는 단계와, 상기 테스트 장치의 상기 스펙트럼 분석기가 상기 신호 분배기를 통해 수신된 상기 송신 테스트 신호를 분석하고 분석의 결과에 따라 송신 테스트 데이터를 생성하는 단계와, 상기 테스트 장치가 상기 송신 테스트 데이터를 상기 PC로 전송하는 단계를 포함한다.</p>
申请公布号 KR101563123(B1) 申请公布日期 2015.10.26
申请号 KR20150047456 申请日期 2015.04.03
申请人 发明人
分类号 G01R31/3183;H04B17/00 主分类号 G01R31/3183
代理机构 代理人
主权项
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