发明名称 Speicher-Zuerst-Prozessfluss und Vorrichtung
摘要 Es werden hier Halbleitervorrichtungen und Verfahren zum Herstellen solcher Vorrichtungen beschrieben. Gemäß Ausführungsformen umfasst eine Halbleitervorrichtung ein Speicher-Gate, das in einer ersten Region der Halbleitervorrichtung angeordnet ist. Das Speicher-Gate kann eine erste Gate-Leiter-Schicht umfassen, die über einem Ladungseinfang-Dielektrikum angeordnet ist. Ein Auswahl-Gate kann in der ersten Region der Halbleitervorrichtung neben einer Seitenwand des Speicher-Gates angeordnet sein. Ein Seitenwand-Dielektrikum kann zwischen der Seitenwand des Speicher-Gates und des Auswahl-Gates angeordnet sein. Zusätzlich kann die Vorrichtung ein Logik-Gate umfassen, das in einer zweiten Region der Halbleitervorrichtung angeordnet ist, die die erste Gate-Leiter-Schicht beinhaltet.
申请公布号 DE112013005968(T5) 申请公布日期 2015.10.22
申请号 DE20131105968T 申请日期 2013.12.11
申请人 SPANSION LLC 发明人 CHEN, CHUN;KIM, UNSOON;CHANG, KUO, TUNG;FANG, SHENQING;RAMSBEY, MARK;HADDAD, SAMEER;PAK, JAMES
分类号 H01L27/115 主分类号 H01L27/115
代理机构 代理人
主权项
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