发明名称 |
Speicher-Zuerst-Prozessfluss und Vorrichtung |
摘要 |
Es werden hier Halbleitervorrichtungen und Verfahren zum Herstellen solcher Vorrichtungen beschrieben. Gemäß Ausführungsformen umfasst eine Halbleitervorrichtung ein Speicher-Gate, das in einer ersten Region der Halbleitervorrichtung angeordnet ist. Das Speicher-Gate kann eine erste Gate-Leiter-Schicht umfassen, die über einem Ladungseinfang-Dielektrikum angeordnet ist. Ein Auswahl-Gate kann in der ersten Region der Halbleitervorrichtung neben einer Seitenwand des Speicher-Gates angeordnet sein. Ein Seitenwand-Dielektrikum kann zwischen der Seitenwand des Speicher-Gates und des Auswahl-Gates angeordnet sein. Zusätzlich kann die Vorrichtung ein Logik-Gate umfassen, das in einer zweiten Region der Halbleitervorrichtung angeordnet ist, die die erste Gate-Leiter-Schicht beinhaltet. |
申请公布号 |
DE112013005968(T5) |
申请公布日期 |
2015.10.22 |
申请号 |
DE20131105968T |
申请日期 |
2013.12.11 |
申请人 |
SPANSION LLC |
发明人 |
CHEN, CHUN;KIM, UNSOON;CHANG, KUO, TUNG;FANG, SHENQING;RAMSBEY, MARK;HADDAD, SAMEER;PAK, JAMES |
分类号 |
H01L27/115 |
主分类号 |
H01L27/115 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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