发明名称 Verfahren und Vorrichtung zur Diagnostik von flachen Solarzellenplatten am Einsatzort
摘要 <p>Verfahren zum Analysieren von Solarzellenplatten im praktischen Betrieb unter Verwendung eines von einer Infrarotkamera aufgenommenen Infrarotwärmebildes der Solarzellenplatten im Betrieb, wobei das Verfahren die folgenden Schritte umfasst: Aussetzen der Solarzellenplatte der Sonnenstrahlung; Umwandeln des Infrarotwärmebildes in Temperaturdaten; Isolieren einzelner Elemente durch Identifizieren von rechteckigen Bereichen des Infrarotwärmebildes, die Solarzellenplatten in dem Infrarotwärmebild entsprechen; tabellarisches Anordnen der Temperaturdaten für jedes isolierte Element; Ermitteln eines Leistungsfähigkeitsstatus jedes isolierten Elements auf der Grundlage der tabellarisch angeordneten Temperaturdaten; und Erzeugen eines Berichtes über den Leistungsfähigkeitsstatus jedes der isolierten Elemente, wobei ein Wärmemodell auf die Solarzellenplatte angewendet wird, das mindestens eines von einem Wärmewiderstand der Solarzellenplatte, einer Ausrichtung der Solarzellenplatte, einer Windgeschwindigkeit und einer Sonneneinstrahlung berücksichtigt.</p>
申请公布号 DE112010004353(B4) 申请公布日期 2015.10.22
申请号 DE20101104353T 申请日期 2010.10.18
申请人 INTERNATIONAL BUSINESS MACHINES CORPORATION 发明人 VAN KESSEL, THEODORE GERARD;GUHA, SUPRATIK;MARTIN, YVES C.;SANDSTROM, ROBERT L.
分类号 G01N25/72 主分类号 G01N25/72
代理机构 代理人
主权项
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