发明名称 | 一种抗单粒子效应的带隙基准 | ||
摘要 | 一种抗单粒子效应的带隙基准,有栅极相连的第一PMOS管M1、第二PMOS管M2和第三PMOS管M3,基极与集电极都接地的第一三极管Q1、第二三极管Q2和第三三极管Q3,以及运算放大器F,M1管、M2管和M3管的源极分别连接电源VDD,M1管的漏极和第一三极管Q1的发射极均连接运算放大器F的反相输入端,M2管的漏极连接运算放大器F的同相输入端,第二三极管Q2的发射极通过电阻R1连接运算放大器F的同相输入端,M3管的漏极构成带隙基准输出端V<sub>out</sub>,第三三极管Q3的发射极通过电阻R2连接M3管的漏极,运算放大器F的同相输入端Y连接辅助电路。本发明减小了单粒子效应的影响,可应用于太空等辐射条件下。 | ||
申请公布号 | CN103677052B | 申请公布日期 | 2015.10.21 |
申请号 | CN201310755084.5 | 申请日期 | 2013.12.30 |
申请人 | 天津大学 | 发明人 | 徐江涛;贾文龙;姚素英;史再峰;高静 |
分类号 | G05F1/56(2006.01)I | 主分类号 | G05F1/56(2006.01)I |
代理机构 | 天津市北洋有限责任专利代理事务所 12201 | 代理人 | 杜文茹 |
主权项 | 一种抗单粒子效应的带隙基准,包括:栅极相互连接的第一PMOS管(M1)、第二PMOS管(M2)和第三PMOS管(M3),基极与集电极都接地的第一三极管(Q1)、第二三极管(Q2)和第三三极管(Q3),以及运算放大器(F),其中,所述第一PMOS管(M1)、第二PMOS管(M2)和第三PMOS管(M3)的源极分别连接电源(VDD),所述第一PMOS管(M1)的漏极和第一三极管(Q1)的发射极均连接运算放大器(F)的反相输入端(X),所述第二PMOS管(M2)的漏极连接运算放大器(F)的同相输入端(Y),所述第二三极管(Q2)的发射极通过电阻(R1)连接运算放大器(F)的同相输入端,所述第三PMOS管(M3)的漏极构成带隙基准输出端(V<sub>out</sub>),所述第三三极管(Q3)的发射极通过电阻(R2)连接第三PMOS管(M3)的漏极,其特征在于,所述的运算放大器(F)的同相输入端(Y)连接用来实现受到单粒子效应时的分流电流的辅助电路(B),所述的辅助电路(B)包括有第一NMOS管(M4)、第二NMOS管(M5)和第四PMOS管(M6),其中,所述的第一NMOS管(M4)、第二NMOS管(M5)的发射极接地,所述的第一NMOS管(M4)、第二NMOS管(M2)的栅极相连,该相连点还连接第二NMOS管(M5)的漏极与第四PMOS管(M6)的漏极的连接点,第一NMOS管(M4)的漏极连接所述的运算放大器(F)的同相输入端(Y),所述第四PMOS管(M6)的栅极和发射极连接电源(VDD)。 | ||
地址 | 300072 天津市南开区卫津路92号 |