发明名称 | 多晶光检测器及使用和制造方法 | ||
摘要 | 本发明给出了用于半导体器件的方法和设备。该方法可以通过给基底表面施加多晶材料层来执行。多晶材料层可以是铅盐半导体材料。该方法还通过给多晶材料施加结和至少两个或多个间隔开的电接触以生成光伏器件来执行,其中与多晶材料层相互作用的光的变化导致结处的电压变化,从而能够实现光检测。 | ||
申请公布号 | CN104995750A | 申请公布日期 | 2015.10.21 |
申请号 | CN201380072673.1 | 申请日期 | 2013.12.13 |
申请人 | 俄克拉何马大学董事会 | 发明人 | Z·史 |
分类号 | H01L31/08(2006.01)I | 主分类号 | H01L31/08(2006.01)I |
代理机构 | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人 | 刘兴鹏 |
主权项 | 一种方法,包括:给具有上表面和下表面的基底的上表面施加多晶材料层,所述多晶材料层包括多个微晶;给所述多晶材料层施加结层,以使与所述多晶材料层相互作用的光的变化在所述结层处产生变化;和给所述多晶材料层和所述基底施加两个或多个间隔开的电接触,以生成光伏器件,所述光伏器件基于与所述多晶材料层相互作用的光的变化和所述结层的变化产生电压或电流。 | ||
地址 | 美国俄克拉荷马 |