发明名称 |
双通道时分交织结构异步逐次比较型模数转换器 |
摘要 |
本发明提供一种双通道时分交织结构异步逐次比较型模数转换器,包含时分交织异步逐次比较单元,该时分交织异步逐次比较单元包括采样开关S<sub>10</sub>和S<sub>20</sub>,电容阵列C<sub>1</sub>和电容阵列E<sub>1</sub>,启动单元F<sub>1</sub>、F<sub>2</sub>、…、F<sub>n</sub>,切换开关SW<sub>1</sub>、SW<sub>2</sub>、SW<sub>3</sub>、SW<sub>4</sub>、…、SW<sub>2n-1</sub>、SW<sub>2n</sub>,比较器A<sub>1</sub>、A<sub>2</sub>、…、A<sub>n</sub>,寄存器B<sub>1</sub>、B<sub>2</sub>、…、B<sub>n</sub>,寄存器D<sub>1</sub>、D<sub>2</sub>、…、D<sub>n</sub>,重置单元G<sub>1</sub>和G<sub>2</sub>。本发明由于采用了双通道异步逐次比较结构,对一组比较器进行双通道复用,且采用异步逐次比较方式,减少了数字逻辑的延时,因此相比于传统的逐次比较型模数转换器,具有更快的速度,因而本发明提供的模数转换器具有高速度和低功耗的特性,特别适用于对模数转换器速度和功耗性能要求较高的场合。 |
申请公布号 |
CN104993830A |
申请公布日期 |
2015.10.21 |
申请号 |
CN201510481115.1 |
申请日期 |
2015.08.07 |
申请人 |
中国电子科技集团公司第二十四研究所 |
发明人 |
邓民明;徐代果;刘涛 |
分类号 |
H03M1/38(2006.01)I |
主分类号 |
H03M1/38(2006.01)I |
代理机构 |
北京科亿知识产权代理事务所(普通合伙) 11350 |
代理人 |
汤东凤 |
主权项 |
双通道时分交织结构异步逐次比较型模数转换器,其特征在于,包含时分交织异步逐次比较单元,该时分交织异步逐次比较单元包括采样开关S<sub>10</sub>和S<sub>20</sub>,电容阵列C<sub>1</sub>和电容阵列E<sub>1</sub>,启动单元F<sub>1</sub>、F<sub>2</sub>、…、F<sub>n</sub>,切换开关SW<sub>1</sub>、SW<sub>2</sub>、SW<sub>3</sub>、SW<sub>4</sub>、…、SW<sub>2n‑1</sub>、SW<sub>2n</sub>,比较器A<sub>1</sub>、A<sub>2</sub>、…、A<sub>n</sub>,寄存器B<sub>1</sub>、B<sub>2</sub>、…、B<sub>n</sub>,寄存器D<sub>1</sub>、D<sub>2</sub>、…、D<sub>n</sub>,重置单元G<sub>1</sub>和G<sub>2</sub>;其中,外部输入信号V<sub>in</sub>通过采样开关S<sub>10</sub>与电容阵列C<sub>1</sub>的TOP<sub>1</sub>~TOP<sub>n</sub>接口端相连,并通过采样开关S<sub>20</sub>与电容阵列E<sub>1</sub>的TOP<sub>1</sub>~TOP<sub>n</sub>接口端相连,同时采样开关S<sub>10</sub>接受外部时钟CK<sub>1</sub>控制进行采样,采样开关S<sub>20</sub>接受外部时钟CK<sub>2</sub>控制进行采样;所述启动单元F<sub>1</sub>与外部时钟CK<sub>1</sub>和CK<sub>2</sub>相连产生触发信号,用于控制切换开关SW<sub>1</sub>与触发比较器A<sub>1</sub>,比较器A<sub>1</sub>的输出结果通过切换开关SW<sub>2</sub>切换分别与寄存器B<sub>1</sub>和D<sub>1</sub>的输入端相连,寄存器B<sub>1</sub>的输出端与电容阵列C<sub>1</sub>的BOT<sub>1</sub>接口端相连,寄存器D<sub>1</sub>的输出端与电容阵列E<sub>1</sub>的BOT<sub>1</sub>接口端相连;同时,所述比较器A<sub>1</sub>的输出结果与启动单元F<sub>2</sub>相连产生触发信号,用于控制切换开关SW<sub>3</sub>与触发比较器A<sub>2</sub>,比较器A<sub>2</sub>的输出结果通过切换开关SW<sub>4</sub>切换分别与寄存器B<sub>2</sub>和D<sub>2</sub>的输入端相连,寄存器B<sub>2</sub>的输出端与电容阵列C<sub>1</sub>的BOT<sub>2</sub>接口端相连,寄存器D<sub>2</sub>的输出端与电容阵列E<sub>1</sub>的BOT<sub>2</sub>接口端相连;以此类推,最后一级比较器A<sub>n</sub>的输出结果通过切换开关SW<sub>2n</sub>切换分别与寄存器B<sub>n</sub>和D<sub>n</sub>的输入端相连,寄存器B<sub>n</sub>的输出端与电容阵列C<sub>1</sub>的BOT<sub>n</sub>接口端相连,寄存器D<sub>n</sub>的输出端与电容阵列E<sub>1</sub>的BOT<sub>n</sub>接口端相连,且最后一级比较器A<sub>n</sub>的输出结果与重置单元G<sub>1</sub>和G<sub>2</sub>相连;所述重置单元G<sub>1</sub>产生的复位信号用于重置寄存器B<sub>1</sub>、B<sub>2</sub>、…、B<sub>n</sub>,所述重置单元G<sub>2</sub>产生的复位信号用于重置寄存器D<sub>1</sub>、D<sub>2</sub>、…、D<sub>n</sub>;电容阵列C<sub>1</sub>和电容阵列E<sub>1</sub>用于输出参考电压的中间电平,以适于判断外部输入信号V<sub>in</sub>和该参考电压的中间电平的相对高低关系。 |
地址 |
400060 重庆市南岸区南坪花园路14号 |