发明名称 |
检测体检查装置 |
摘要 |
本发明提供一种检测体检查装置,通过光学地测量源自磁性粒子自身的检查液的浊度或吸光度来对检测对象分子进行定量,目的在于得到高精度的检查结果。磁体(41)对检查容器(31)中收存的、包含检测体和磁性粒子的检查液施加磁场。测光机构具有光源(210)和检测器(220)。光源(210)朝着检查液照射光。检测器(220)检测来自在夹着检查容器(31)与光源(210)对置的位置处设置的检查液的光。磁体(41)具有使磁场的磁通密度在检查容器(31)内的检查液中大致均匀的几何学配置。 |
申请公布号 |
CN103765214B |
申请公布日期 |
2015.10.21 |
申请号 |
CN201380001543.9 |
申请日期 |
2013.08.30 |
申请人 |
株式会社东芝;东芝医疗系统株式会社 |
发明人 |
内川明日香;金山省一;池田成 |
分类号 |
G01N33/53(2006.01)I;G01N33/543(2006.01)I;G01N33/553(2006.01)I;G01N35/02(2006.01)I |
主分类号 |
G01N33/53(2006.01)I |
代理机构 |
中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 |
代理人 |
高科 |
主权项 |
一种检测体检查装置,包括:磁场产生部,产生向检查容器中收存的包含检测体和磁性粒子的检查液施加的磁场;以及测光机构,具有:朝着上述检查液照射光的光源、和设置在夹着上述检查容器与上述光源对置的位置处的检测来自上述检查液的光的检测器,该检测体检查装置的特征在于:上述磁场产生部具有使上述磁场的磁通密度在上述检查容器内的上述检查液中大致均匀的几何学配置。 |
地址 |
日本东京都 |