| 发明名称 | 一种显示面板及其制造方法、TFT测试方法 | ||
| 摘要 | 本发明提供了一种显示面板及其制造方法、TFT测试方法，用以综合评价显示面板中的电致发光层的显示效果、以及薄膜晶体管的电学特性，如短程均匀性等。该显示面板包括显示区域和显示区域的外围区域，该外围区域包括：电致发光层测试区、TFT测试区、以及引出线；电致发光层测试区包括多个具有电致发光层的薄膜晶体管，连接所述多个具有电致发光层的薄膜晶体管的源极的第一测试线，以及，连接所述多个具有电致发光层的薄膜晶体管的栅极的开关引线和第二测试线；TFT测试区包括多个薄膜晶体管；引出线有多根，且每一根引出线用于连接所述电致发光层测试区中的一个薄膜晶体管的源漏金属层和所述TFT测试区中的一个薄膜晶体管的源漏金属层。 | ||
| 申请公布号 | CN104992960A | 申请公布日期 | 2015.10.21 |
| 申请号 | CN201510310072.0 | 申请日期 | 2015.06.08 |
| 申请人 | 京东方科技集团股份有限公司 | 发明人 | 王祖强;李光;孙亮;陆小勇 |
| 分类号 | H01L27/32(2006.01)I;H01L23/544(2006.01)I;H01L21/77(2006.01)I;H01L21/66(2006.01)I | 主分类号 | H01L27/32(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291 | 代理人 | 任嘉文 |
| 主权项 | 一种显示面板，包括显示区域和所述显示区域的外围区域，其特征在于，所述外围区域包括：电致发光层测试区、TFT测试区、以及引出线；其中，所述电致发光层测试区包括多个具有电致发光层的薄膜晶体管，连接所述多个具有电致发光层的薄膜晶体管的源极的第一测试线，以及，连接所述多个具有电致发光层的薄膜晶体管的栅极的开关引线和第二测试线；所述TFT测试区包括多个薄膜晶体管；所述引出线有多根，且每一根引出线用于连接所述电致发光层测试区中的一个薄膜晶体管的源漏金属层和所述TFT测试区中的一个薄膜晶体管的源漏金属层。 | ||
| 地址 | 100015 北京市朝阳区酒仙桥路10号 | ||