发明名称 一种LCD总体检测缺陷方法
摘要 本发明公开了一种LCD总体检测缺陷方法,包含如下步骤:步骤1,图像预处理;步骤2,黑白模式图像缺陷分割;步骤3,点缺陷和线缺陷判定;步骤4,灰模式图像缩放;步骤5,图像重建;步骤6,点状异物缺陷检测;步骤7,区域状异物缺陷检测;步骤8,线状异物缺陷检测。本发明对图像进行高斯平滑去除噪声,再求梯度值,根据梯度幅值判定初步确定边缘点,最后精确定位边缘位置并细化,使效果更清晰。
申请公布号 CN103413288B 申请公布日期 2015.10.21
申请号 CN201310379518.6 申请日期 2013.08.27
申请人 南京大学 发明人 杨育彬;高阳;赵九洋
分类号 G06T5/50(2006.01)I;G06T7/00(2006.01)I;G01N21/956(2006.01)I 主分类号 G06T5/50(2006.01)I
代理机构 江苏圣典律师事务所 32237 代理人 胡建华
主权项 一种LCD总体检测缺陷方法,其特征在于,包含如下步骤:步骤1,图像预处理:计算阈值,提取待检测图像Ix中的目标区域图像Iroi;步骤2,黑白模式图像缺陷分割:使用背景减除法获取光照均匀的图像,获取待检测图像中的目标区域图像Iroi的二值图像Ibin;步骤3,点缺陷和线缺陷判定:找出二值图像Ibin中所有点缺陷和线缺陷;步骤4,灰模式图像缩放:利用双线性插值算法将灰模式下的目标区域图像Iroi缩放得到图像OI;步骤5,图像重建:利用奇异值分解方法对图像OI进行重建得到重建图像CI,并用图像OI减去重建图像CI获取差图DI;步骤6,点状异物缺陷检测:对获取的差图DI进行阈值化缺陷分割,并通过轮廓检测统计轮廓数量并计算缺陷的总面积,判断是否存在点状异物缺陷;步骤7,区域状异物缺陷检测:将差图DI分成num个窗口,对每个窗口进行区域异物缺陷检测,统计每个窗口中的平均灰度值和方差,num取值为大于等于2的自然数;步骤8,线状异物缺陷检测:对差图DI使用边缘检测算法进行边缘检测,判断是否发生线状异物缺陷;步骤1包括如下步骤:选择N1幅无缺陷白模式下的样本LCD图像,N1>1,先用二值化函数将图像二值化得到二值化图像,再用轮廓检测函数对二值化图像进行轮廓检测,得到里层轮廓和外层轮廓,其中里层轮廓内为样本LCD图像的目标区域,里层轮廓和外层轮廓之间是黑色边框区域,计算目标区域的灰度最小值和黑色边框区域的灰度最大值,取N1个目标区域的灰度最小值的算数平均值V1和黑色边框区域的灰度最大值的算数平均值V2的算数平均值作为阈值,根据阈值将白模式下的待检测图像Ix二值化得到二值化图像,再用轮廓检测函数对二值化图像进行轮廓检测,得到的最里层的轮廓区域图像为目标区域图像Iroi。
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