发明名称 半导体装置及其形成方法;SEMICONDUCTOR DEVICE AND METHOD FOR FORMING THE SAME
摘要 本揭露提供一种半导体装置及其形成方法。此半导体装置包括基板,以及源极区域与汲极区域,形成于基板中。此半导体装置亦包括不纯物扩散停止层,形成于基板之凹口中且介于源极区域与汲极区域之间,其中不纯物扩散停止层覆盖凹口之底部及侧壁。此半导体装置亦包括通道层,形成于不纯物扩散停止层之上与凹口之中;以及闸极堆叠,形成于通道层之上。不纯物扩散停止层实质上避免基板之源极与汲极的不纯物扩散进入通道层。
申请公布号 TW201539748 申请公布日期 2015.10.16
申请号 TW103146500 申请日期 2014.12.31
申请人 台湾积体电路制造股份有限公司 TAIWAN SEMICONDUCTOR MANUFACTURING CO., LTD. 发明人 萧茹雄 HSIAO, RU SHANG;王琳松 WANG, LING SUNG;黄智睦 HUANG, CHIH MU;赵志刚 CHAO, CHIH KANG;蒋振劼 CHIANG, CHEN CHIEH
分类号 H01L29/772(2006.01) 主分类号 H01L29/772(2006.01)
代理机构 代理人 洪澄文颜锦顺
主权项
地址 新竹市新竹科学工业园区力行六路8号 TW