发明名称 通过矽磊晶提升性能;PERFORMANCE BOOST BY SILICON EPITAXY
摘要 本揭示为有关于产生电晶体元件的方法,电晶体元件具有磊晶层设置于凹陷主动区上,磊晶层改善电晶体元件的效能。在一些实施例中,藉由提供半导体基底实施此方法,实施磊晶成长以形成磊晶层于半导体基底上。电性绝缘层接着形成于磊晶层上,且闸极结构形成于电性绝缘层上。藉由形成磊晶层于半导体基底上,改善半导体基底的表面粗糙度,藉此改善电晶体元件的效能。
申请公布号 TW201539667 申请公布日期 2015.10.16
申请号 TW103146210 申请日期 2014.12.30
申请人 台湾积体电路制造股份有限公司 TAIWAN SEMICONDUCTOR MANUFACTURING CO., LTD. 发明人 郑有宏 CHENG, YU HUNG;吴政达 WU, CHENG TA;杜友伦 TU, YEUR LUEN;蔡嘉雄 TSAI, CHIA SHIUNG;李汝谅 LEE, RU LIANG;林东毅 LIN, TUNG I;陈韦立 CHEN, WE LI
分类号 H01L21/8238(2006.01) 主分类号 H01L21/8238(2006.01)
代理机构 代理人 洪澄文颜锦顺
主权项
地址 新竹市新竹科学工业园区力行六路8号 TW