发明名称 半导体积体电路(IC)及其制造方法;SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT WITH NANO GAP
摘要 一种半导体积体电路(IC)的制造方法被揭露。具有一介电层位于其之上的一基板被提供。一嵌段共聚合物(BCP)层被沈积于介电层之上。此嵌段共聚合物(BCP)层接着被退火以形成一复数个第一聚合物奈米结构,其被位于介电层之上的一复数个第二聚合物奈米结构围绕。利用第一聚合物奈米结构做为一蚀刻罩幕对第二聚合物奈米结构进行选择性蚀刻,以形成一奈米块(nano-block)。利用奈米块做为一蚀刻罩幕对介电层进行选择性蚀刻,以形成一奈米沟槽(nano-trench)。奈米沟槽被密封以形成一奈米气隙(nano-air-gap)。
申请公布号 TW201539646 申请公布日期 2015.10.16
申请号 TW103146005 申请日期 2014.12.29
申请人 台湾积体电路制造股份有限公司 TAIWAN SEMICONDUCTOR MANUFACTURING CO., LTD. 发明人 蔡政勋 TSAI, CHENG HSIUNG;吴杰翰 WU, CHIEH HAN;李忠儒 LEE, CHUNG JU;眭晓林 SHUE, SHAU LIN
分类号 H01L21/70(2006.01);H01L27/118(2006.01) 主分类号 H01L21/70(2006.01)
代理机构 代理人 洪澄文颜锦顺
主权项
地址 新竹市新竹科学工业园区力行六路8号 TW